產(chǎn)品時(shí)間:2023-12-26
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:
品牌 | 其他品牌 |
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電化學(xué)工作站 型號(hào):S9JL/CS310M
具體應(yīng)
用于:1)電合成、電沉積(電鍍)、陽極氧化等反應(yīng)機(jī)理研究;2)電分析化學(xué)研究;電化
學(xué)傳感器的性能研究;3)xin 型能源材料(鋰離子電池、
太陽能電池、燃料動(dòng)力電池和chao級(jí)電容器等)、功
能材料以及光電材料的性能研究;4)金屬材料在不同
介質(zhì)(水/混凝土/土壤等)中的腐蝕研究與耐蝕性評(píng)價(jià);
5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰 極 保護(hù)效率的快 速評(píng)價(jià)。
電化學(xué)工作站 型號(hào):S9JL/CS310M
1、硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位電位控制范圍:±10V
恒電流控制范圍:±2.0A
電位控制精度:0.1%@Fullscale±1mV
電流控制精度:0.1%@Fullscale
電位分辨率:10
電流靈敏度:1pA
電位上升時(shí)間:電位上升時(shí)間: <1 S(<10mA), <1 S(<2A)
參比電極輸入阻抗: 10的12次方|20pF
電流量程: 2nA~2A,共10檔.
槽壓: ±21V
大輸出電流: 2.0A
CV和LSV掃描速度: 0.001mV~10V/s
CA和CC脈沖寬度: 0.0001~65000s
電流掃描增量: lmA@1A/mS
電位掃描時(shí)電位增量: 0.076mV @1V/mS
SWV頻率: 0.001~100KHz :
DPV和NPV脈沖寬度: 0.0001~1000s
AD數(shù)據(jù)采集: 16bit@ 1MHz, 20bit @1KHz
DA分辨率: 16bit, 建立時(shí)間: 10S
CV的小電位增量: 0.075mV
IMP頻率: 100Hz~1 MHz
低通濾波器: 8段可編程
電流與電位量程:自動(dòng)設(shè)置
接口通訊模式: USB2.0
2、電化學(xué)阻抗功能指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器:
頻率響應(yīng):
10CHz~1MHz
頻率度: 0.005%
交流信號(hào)幅值: 1mV~2500mV
信號(hào)分辨率: 0.1mV RMS
直流偏壓: -10~+10V
DDS輸出阻抗: 50C
波形:正弦波,三角波,方波
正弦波失真: <1%
掃描方式:對(duì)數(shù)/線性,增加/下降
3. CorrTest測(cè)與控制軟件主要功能
穩(wěn)態(tài)極化:開路電位測(cè)量(OCP)、恒電位極化(I-t 曲線測(cè)試)、恒電流極化、動(dòng)電位掃描
(TAFEL曲線)、動(dòng)電流掃描(DGP)
暫態(tài)極化:任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍(VSTEP)、多電流階躍
(ISTEP )
計(jì)時(shí)分析:計(jì)時(shí)電位法(CP)、 計(jì)時(shí)電流法(CA)、 計(jì)時(shí)電量法(CC)
伏安分析:線性掃描伏安法(LSV) "、線性循環(huán)伏安法(CV)
交流阻抗:電化學(xué)阻抗(EIS) ~頻率掃描、電化學(xué)阻抗(EIS) ~時(shí)間掃描、電化學(xué)阻抗
(EIS) ~電位掃描(Mott-Schottky 曲線)、恒電流阻抗測(cè)試
腐蝕測(cè)k: .動(dòng)電位再活化法(EPR)、電化學(xué)噪聲(EN).電偶腐蝕測(cè)量(ZRA)、氫擴(kuò)散測(cè)
試、晶間腐蝕測(cè)量
電池測(cè)試:電池充放電測(cè)試、恒電流充放電、恒電流滴定GITT、恒電位滴定PITT
其他:圓盤電極測(cè)試及轉(zhuǎn)速控制、溶液電阻測(cè)量(IR 降)、溶液電阻正反饋補(bǔ)償(IR 補(bǔ)償)
功能方法
穩(wěn)態(tài)極化 開路電位測(cè)量(OCP)
恒電位極化(i-t曲線)
恒電流極化
動(dòng)電位掃描(TAFEL曲線)
動(dòng)電流掃描(DGP)
電位掃描-階躍
暫態(tài)極化 任意恒電位階梯波
任意恒電流階梯波
恒電位階躍(VSTEP)
恒電流階躍(ISTEP)
計(jì)時(shí)分析 計(jì)時(shí)電位法(CP)
計(jì)時(shí)電流法(CA)
計(jì)時(shí)電量法(CC)
線性掃描伏安法(LSV)#
線性循環(huán)伏安法(CV)
交流阻抗 電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描
電化學(xué)阻抗(EIS)~時(shí)間掃描
電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描
恒電流阻抗測(cè)試
電池測(cè)試 電池充放電測(cè)試
恒電流充放電(GCD)
恒電位間歇滴定技術(shù)(PITT)
恒電流間歇滴定技術(shù)(GITT)
雙恒測(cè)量 氫擴(kuò)散測(cè)試(HDT)
盤環(huán)電極測(cè)試
擴(kuò)展測(cè)量 電化學(xué)噪聲(EN)
電偶腐蝕測(cè)量(ZRA)
控制電位電解庫倫法(BE)
動(dòng)電位再活化法(EPR)
溶液電阻測(cè)量
循環(huán)極化曲線(CPP)
4、儀器配置
1)儀器主機(jī)1臺(tái):
2) CorrTest 測(cè)試與分析軟件1套
3)電源線、USB數(shù)據(jù)線、電極電纜線各1條
4)模擬電解池1個(gè)(儀器自檢器件)