半導體粉末電阻率測試儀 型號:HDU6-FZ-2006  

儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示。
適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.
儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器， 加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量精度高，穩(wěn)定性好，重復性好，使用方便等特點， 并有自校功能。
本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質量的一種重要工具。
FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀
本儀器是為了適應當前迅速發(fā)展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關標準設計的。 儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性增強，更方便于用戶， 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進行電阻、電阻率多用途的測量。
適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.
儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器， 加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量精度高，穩(wěn)定性好，重復性好，使用方便等特點， 并有自校功能。
本儀器采用通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差，還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差， 克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。
本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質量的一種重要工具。

半導體粉末電阻率測試儀 型號:HDU6-FZ-2006  
主要技術指標：
測量范圍：
電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
電阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm
測量誤差 ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）
測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 μV
測量精度: ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）
測量電流：0 - 100 mA 連續(xù)可調，
電流量程：10 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100mA
試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網(wǎng)）納米粉末
試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm
試樣高度：16mm ± 0.5mm
測量誤差：±0.1mm
取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
壓力量程：0 - 100 kg 可調
顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點
電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
備有粉末測試架和固態(tài)標準樣品測試臺供選用